X射線無損測厚儀是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光光譜儀，使用大鈹窗超薄窗口高分辨率的SDD探測器，其探測器分辨率低為139eV，處于水平；產(chǎn)品采用上照式設(shè)計，多重防輻射保護(hù)裝置以及X射線發(fā)生器，使輻射劑量符合國際規(guī)定；樣品觀察系統(tǒng)采用CCD、數(shù)字多道分析器、激光定位以及自主研發(fā)的測厚分析軟件，各項(xiàng)指標(biāo)均符合相關(guān)技術(shù)要求，技術(shù)達(dá)水平。
XRF2000鍍層測厚儀主要應(yīng)用于金屬鍍層銀的測試，同時可以測試鍍金、鍍鎳、鍍錫、鍍鋅、鍍銅、鍍銠、鍍鈀、二元合金鍍層等，整個過程全部通過電腦來操作，實(shí)現(xiàn)“傻瓜”式操作模式，簡單的培訓(xùn)既可以進(jìn)行操作，整個儀器測試基本沒有耗材，降低了后期的使用成本。
應(yīng)用行業(yè)：
1、電子半導(dǎo)體行業(yè)接插件和觸點(diǎn)的厚度測量。
2、印刷線路板行業(yè)功能鍍層厚度測量。
3、***屬首飾手表行業(yè)鍍層厚度測量。
4、五金電鍍行業(yè)各種防腐性、裝飾性及功能鍍層厚度測量。
更多產(chǎn)品信息來源：http://www.sh-jcx.com/fan2009-SonList-1090835/
https://www.chem17.com/st253946/erlist_1090835.html
